在对数标度上测量电阻与温度特性在高分辨率下提供低分辨率而电阻在低温下变化很小（只有~Ω/~°C）。因此，我们决定使用基于部分线性化的简单方法。另一个电阻器与NTC并联，这种并联是通过连接到固定Vcc的电阻器供电的。模拟电路是如图10所示。
图10。NTC前端电路的SPICE模型。 选择合适的电阻器R3与NTC并联，并通过以下方式为电阻器R1供电：线性化。R4和R5是PCB布局中的去耦电阻器，因为保持ADC尽可能接近非常重要有可能连接到NTC电路。连接到NTC的线路应不同，以确保CMM的抗噪性温度测量电路。运算放大器Q1A将来自NTC的电压放大，增益设置为10.1。然后使用运算放大器Q1B来创建互补ADC_P信号，为NCD98011 ADC创建差分输入。需要注意的是通常不会生成ADC_P信号的互补信号；然而，这是为了将NTC的负温度依赖性更改为正值。温度越高，温度越高较高的电压，由ADC测量，用于控制固件中的后处理。 在下一个图（图11）中，我们展示了流经PIM中集成NTC的电压和电流。在这些模拟中，电流达到小于300µA的值，典型的电流流过NTC约为100µA。但由于PIM模块中的集成NTC位于内部基板上，通过NTC的电流产生的热量不会影响模块温度。更高的电流在NTC测量电路中提供更好的线性化。
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