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淺談MOSFET Avalanche Energy崩潰

2024-11-19 08:52| 发布者: 闪电| 查看: 1| 评论: 0

摘要: 在現代電子設備中,金屬氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET)被廣泛應用於開關和放大電路中。MOSFET的擊穿特性,特別是其在雪崩模式下的行為,對於確保其可靠性和性能至關重要。測試MOSFET的雪崩能量(Avalanche Ener ...

在現代電子設備中,金屬氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET)被廣泛應用於開關和放大電路中。

MOSFET的擊穿特性,特別是其在雪崩模式下的行為,對於確保其可靠性和性能至關重要。

測試MOSFET的雪崩能量(Avalanche Energy)可以幫助工程師評估器件在極端條件下的表現。

AOS MOSFET測試方式:

  1. 設置測試電路
    設置測試電路
  2. 施加高電壓 Vdd

施加高電壓 V_dd 開始施加高於器件額定電壓的直流電壓,逐漸增加,直到MOSFET進入雪崩模式。

在這個過程中,監測MOSFET的電壓和電流波形,特別是雪崩過程中的瞬時變化。

雪崩崩潰能量公式:
雪崩崩潰能量公式:

有抗雪崩崩潰保證的MOSFET,在其規格書中會規定IAR和EAS的絕對最大額定值,因此可以透過規格書來瞭解詳細的值。

在有雪崩崩潰電流流動的工作環境中,需要把握IAR和EAS的實際值,並在絕對最大額定值範圍內使用。

AOK095A60 spec 為例:

AOK095A60 spec 為例:

雪崩崩潰擊穿:
雪崩崩潰擊穿:

當外部施加的 Vdd電壓超過 BVdss臨界值時,MOS元件中的電子會獲得足夠的能量,並產生I_AR 崩潰電流由Drian to Source,此崩潰電流流經R_PB產生電壓差,造成寄生電晶體導通,進而使更大電流流過造成MOS失效。

雪崩崩潰失效的主要特徵包括:

高電流:在崩潰時,電流會急劇上升,超過元件的額定值。

熱失效:過高的電流會導致元件溫度上升,損壞其內部結構。

結論

對MOSFET雪崩能量的驗證是確保電子設備可靠性的重要步驟。通過系統的測試方法和詳細的數據分析,工程師可以有效地評估MOSFET在極端條件下的性能,從而提高整個系統的穩定性和安全性。 

QA1: 什麼是雪崩能量?

雪崩能量是指在雪崩過程中,電子獲得的能量,這一過程使得電子能夠撞擊其他原子,導致更多電子的產生。

QA2: 雪崩效應如何影響電子元件的性能?


雪崩效應能夠在低電壓下實現高增益,使得電子元件在放大信號和開關操作中表現出色。

QA3: MOS技術的主要應用領域有哪些?

MOS技術廣泛應用於光電探測器、射頻放大器、高速開關等領域,特別是在需要高增益和快速響應的應用中。

QA4: 不同材料對雪崩能量的影響是什麼?

不同半導體材料的能帶結構和電子移動性影響其雪崩效應的強度,從而影響雪崩能量的大小和增益特性。

QA:5 如何提高MOS元件的性能?

可以通過優化材料選擇、設計更高效的結構以及調整工作條件(如電壓和電場強度)來提高MOS元件的性能。


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