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第五节 静态工作点的稳定问题

2014-4-11 12:21| 发布者: lfcx| 查看: 6| 评论: 0

摘要: 第五节 静态工作点的稳定问题 一、温度对静态工作点的影响 温度对电路静态工作点的影响,主要来自温度对晶体管参数的影响。而温度对晶体管的影响主要体现在以下3个参数上。 (1)温度每升高10℃,反向饱和电流ICB ...
第五节 静态工作点的稳定问题
一、温度对静态工作点的影响

    温度对电路静态工作点的影响,主要来自温度对晶体管参数的影响。而温度对晶体管的影响主要体现在以下3个参数上。

    (1)温度每升高10℃,反向饱和电流ICBO将增加1倍;

    (2)温度每升高1℃,电流放大系数β将增加1%;

    (3)温度每升高1℃,电压UBB约降低2mV。

    当温度变化时,由于上述晶体管参数会随之变化,其结果是导致电路的工作点变化。如

    温度上升→ICBO↑→输出曲线将向上移→ICQ↑(Q点上移)。

    温度上升→UBE↓→基极电流IB↑ → ICQ↑。

    温度上升→β↑→特性曲线间距增大 → ICQ↑。

    总之,温度上升,静态工作点会升高,反之温度降低,会引起工作点下降。

    不论工作点升高还是降低,都会引起放大电路工作不稳定。因此,必须采取措施稳定工作点。


温度对静态工作点的影响

    解决方法:

    (1)工作环境采用恒温,这种方法显然不可行。

    (2)从放大电路本身考虑,使放大电路本身具有稳定工作点的功能。 


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