3.雪崩诱发β衰减 双极型晶体管的发射结雪崩会显著地减少其β值。 影响:雪崩诱发β衰减在集电极电流较小时会引起β减小,但在中等或大集电极电流的情况下对β值没有明显影响。 防护措施:增大掺杂、减小器件发射结反偏电压额定值、ESD箝位保护。 4.负偏置温度不稳定性 定义:当栅极相对源极和背栅负偏时,该机制引起阀值电压的逐渐漂移,高温会加剧该过程。 影响:当PMOS晶体管的栅极相对硅来说为负偏时,将产生负偏置温度不稳定性;当PMOS晶体管的栅极相对硅来说为正偏时,将产生正偏置温度不稳定性。 防护措施:实践中通过改进的操作技术减小栅氧化层在潮湿空气中的暴露时间,可以减少负偏置温度不稳定性,而正偏置温度不稳定性不会引起太多问题,通过简单的电路调整可以避免。 |
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