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失效机制及版图设计技巧

2015-4-22 12:44| 发布者: 闪电| 查看: 97| 评论: 0

摘要: 知识点一 电过应力 电过应力(EOS)是指由对器件施加过大电压或电流而引起的失效。版图预防措施可以减小4种常见类型EOS失效发生的可能性:静电泄放(ESD)、电迁徙、介质击穿及天线效应。 1.静电泄放 静电泄放是由 ...


图 NMOS晶体管中热电子注入机制简图

    2.齐纳蠕变

    尽管热载流子注入与MOS晶体管相关,然而在齐纳二极管和双极型晶体管中也会发生同样的过程,其内在机制大体相同。工作过程中,雪崩电压缓慢升高的现象称为齐纳蠕变。

    通过齐纳蠕变经典模型简图说明齐纳蠕变的影响:



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