失效机制及版图设计技巧

    电过应力（EOS）是指由对器件施加过大电压或电流而引起的失效。版图预防措施可以减小4种常见类型EOS失效发生的可能性：静电泄放（ESD）、电迁徙、介质击穿及天线效应。

    1．静电泄放

    静电泄放是由静电引起的一种电过应力形式。通过特殊的测试可测出集成电路对ESD的敏感度。常见的3种测试结构称为人体模型．机器模型和充电器件模型。