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了解 SOT-223 封装的热特性

2024-4-3 09:39| 发布者: 闪电| 查看: 8| 评论: 0

摘要: 对于功率IC而言,不同封装的热参数应符合不同的应用和用户的要求,并确定不同类型封装的规格热限值。热参数,例如热阻θJA和θJC,用于确定集成电路的散热性能。热阻越低代表热性能越好。热阻较低的系统可以散发更多 ...

对于功率IC而言,不同封装的热参数应符合不同的应用和用户的要求,并确定不同类型封装的规格热限值。热参数,例如热阻θ JA和θ JC,用于确定集成电路的散热性能。热阻越低代表热性能越好。热阻较低的系统可以散发更多的热量。

本文介绍了SOT-223封装集成电路的散热情况,包括热参数和内部结构。最后,我们将介绍 SOT-223 封装 PCB 铜布局的热分析。



1. 集成电路通用热理论

热阻是物体温差的热特性,是热导的倒数。在特定封装的热流路径中,存在许多热阻,主要与硅芯片、模塑料、引线框架的铜、芯片附件等材料有关。图1是特定封装的等效热阻模型。其中,串联电阻定义为式(1)。

图 1. 等效热阻系列

θJA = θJC + θCA )

在哪里,

θ JC是结点到外壳的热阻。(°C/瓦)

θ CA是从外壳到环境的热阻。(°C/瓦)

IC 的关键热参数是结温 (T J ),它也决定 IC 的稳定性。一般来说,IC的datasheet都会给出推荐的结点工作温度。由于T J无法直接测量,因此可以利用式(2)和式(3)来逼近。在 JEDEC 51 标准中,外壳温度 (T C ) 定义为封装表面“最热”位置,环境温度 (T A ) 定义为测试环境温度。

TJ = T + P D x θ JA (2)

J = T C + P D x θ JC (3)

,在哪里

θ JA是结点到环境的热阻。(°C/瓦)

θ JC是结点到外壳的热阻。(°C/瓦)

J是稳态测试条件下的器件结温。(°C)

A是周围环境的参考温度。(°C)

C是案例点的参考温度。(°C)

D是器件的功耗。(W)



2. SOT-223热阻测量

2-1 测量环境

根据 JEDEC 51-2 热测量标准,θ JA应在 T A = 25°C自然对流(气流 = 0 英尺/分钟)的标准化环境条件下测量。标准环境条件如图 2 所示(尺寸单位为毫米)。



(a) 测试环境侧视图

(b) 测试环境最终视图

图2. 标准化环境条件


2-2 热测试板概述

在JEDEC 51-3和JEDEC 51-7热测量标准中,被测器件安装在标准测试板上,测试板的详细规格如图3至图6所示。对于SOT-223封装,4mm x 4mm铜面积和 1/mm 宽的铜线旨在消散热流。低有效导热系数测试板布局(单层铜,参考JEDEC 51-3)

图 3. 单层俯视图


图4.单层PCB剖面图


高效导热测试板布局(四层铜,参考JEDEC 51-7)


图 5. 四层俯视图

图 6. 四层 PCB 剖面图


2-3 SOT-223热阻

根据 JEDEC 51-3 和 JEDEC 51-7 测量方法,可以在固定功耗和环境温度条件下估算SOT-223 封装的热阻 θ JA和 θ JC。测量结果如下所示:

l功耗,P D @ T A = 25°C,T J = 125°C

SOT-223------------------------------------------------------------ -------------------------------------------------- ------------------------------------------ 0.741W

l封装热阻

SOT-223,JA -------------------------------------------------------- -------------------------------------------------- -------------------------- 135°C/W

SOT-223,C ------------------------------------------------------ -------------------------------------------------- --------------------------- 15°C/W



3. SOT-223封装结构的热特性

3-1 SOT-223封装结构材料特性

根据式(2),较低的电阻意味着在相同的功耗和环境温度下,结温会较低,并且封装材料的导热率将主导封装的热阻。因此,SOT-223封装利用引线框架的高导热性来降低热阻。SOT-223封装内部结构如图7所示,该模型中使用的元件的物理尺寸参数和材料特性总结在表1中。

图 7. SOT-223 顶部和剖面透明视图


表1 物理尺寸参数和材料性能

组件尺寸

复合尺寸(毫米)

3.5×6.5×1.8

模具尺寸(毫米)

0.700×0.700

模具厚度(密尔)

12

芯片附着厚度(密尔)

0.4

垫尺寸(毫米)

2.50×3.00

引线框厚度(毫米)

0.305

PCB 厚度(盎司)

2

导热率 (W/m°C)

化合物

0.847

140

芯片连接

2.5

焊盘和引线框架

第284章

FR-4

0.3

第385章

焊接

51

图8中,SOT-223与其他封装的结构有非常具体的区别。在 SOT-223 封装中,芯片(热源)直接连接到外露引线框架,主要热流可以通过外露引线框架传导至 PCB 走线和环境。然而,其他封装仅使用金线来连接芯片和引线框架。这使得 SOT-223 的热阻比其他封装更小。因此,我们可以利用这一特性,通过设计 SOT-223 封装上的 PCB 铜布局来提高热性能。

图 8. SOT-223 封装透明视图图

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